機械学習で抵抗変化型メモリ（ReRAM）の エラーを予測、メモリの寿命を１３倍に向上 - 竹内研究室の日記

2015/05/22 58 users ReRAM メモリ IMw データセンタ 寿命

IMWで発表した、機械学習を用いることでReRAMの寿命を13倍に増加する技術をプレスリリースしました。詳細はこちらをご覧ください。以下、要旨です。機械学習を用いて抵抗変化型メモリ（ReRAM）のエラーを予測し、寿命（書き換え可能な回数）を１３倍に増加させることに成功しました。携帯電話からデータセンタのストレージ（記憶装置）までフラッシュメモリを記憶媒体とするＳＳＤが幅広く使われています。フラッシ... 続きを読む